Der TEMEA Workshop, ein großer Erfolg

Das TEMEA Projektkonsortium unter der Leitung von Fraunhofer FOKUS hat am 24.09.2009 den TEMEA Workshop – Test eingebetteter Steuergeräte-Software der Automobilindustrie mit interessierten Teilnehmern aus Industrie und Wirtschaft erfolgreich durchgeführt. Im Rahmen des Workshops wurde die neue, auf TTCN-3 basierende, Technologie TTCN-3 embedded vorgestellt. Die mit der Echtzeit-Überprüfung von Steuerungssystemen verbundenen Herausforderungen konnten bisher nur von proprietären Werkzeugen und Methoden erfüllt werden. Mit TTCN-3 embedded gibt es nun eine Testnotation, in der alle im Bereich Automotive relevanten Tests durchgängig formuliert werden können. Neben dem erweiterten Funktionsspektrum gegenüber bisherigen Lösungen, bietet TTCN-3 embedded auch den Vorteil eines offenen Standards. Neben einer Wiederverwendbarkeit von Testartefakten  ist damit auch endlich ein Austausch von Tests zwischen Zulieferern und OEMs möglich!

Frau Prof. Ina Schieferdecker verwies bei der Eröffnung auf die Notwendigkeit einer gemeinsamen standardbasierten Testmethodik für die Abnahme von Steuergeräten und Steuergerätesoftware, für die TTCN-3 ein guter Kandidat ist. Darauf aufbauend können kosten- und personaleffizient Testsysteme und Testlösungen für die Automobilindustrie entwickelt werden, die eine erhöhte Wiederverwendung, Testeffizienz und letztendlich eine verbesserte Systemqualität und Sicherheit ermöglichen.